振動台-勤卓環境測試有限公(gōng)司

高低溫衝擊氣流儀助力芯片研發迭代 勤卓半導體測(cè)試(shì)落地案例

發布時間: 2026-05-09 09:15:46    來源(yuán):勤卓環試   

        隨著半導體產業高速升級,車規芯片、消費級SOC芯片、通信射頻芯片、功率IGBT芯片等產(chǎn)品精度與集(jí)成度持續提(tí)升,芯片的環境(jìng)可靠性、熱穩定性與抗疲勞性能成(chéng)為研發量產的核心考核(hé)指標。芯片在封裝測(cè)試、終端應用、戶外服役、冷熱切換工況中,會遭遇極速溫變、高低(dī)溫交替衝擊,極(jí)易出現封裝開裂、焊點疲勞、參數(shù)漂移、局部過熱失效等問題。高低溫衝擊氣流儀作為半(bàn)導體芯片專項可靠性(xìng)測試設備,可實(shí)現極速溫變、局部精準控溫、無應力溫差衝擊測試,完全契合JEDEC行業測(cè)試標準,是芯片新品研發(fā)、失效分析、品(pǐn)質篩(shāi)查的核心設備。勤(qín)卓深耕環境測試設備領域,針對芯片研發測試痛點,定製專屬高低溫衝擊氣流儀解決方案,助力(lì)眾多半導體企業完成芯片可靠性(xìng)驗證,加速產品迭代與量產落地。

高(gāo)低溫衝擊氣流儀

        傳統(tǒng)芯(xīn)片測試多采用常規高低溫試驗箱,存在明顯技術(shù)短板,無法適配高端芯片研發需(xū)求(qiú)。常規設備依靠腔體整體控溫,熱慣性(xìng)大、溫變速率緩慢,無法模擬芯片真(zhēn)實服役時的極速冷(lěng)熱切換工況(kuàng),難(nán)以複現瞬態熱應力引發的隱性故障。同時,傳統設備隻能實現整體環境控溫,無法針對芯片單點(diǎn)、引腳、封裝焊(hàn)點進行精準溫控測試,測試數據偏差大,容易導致研發階段隱患漏檢,造成芯片量產裝車、裝機(jī)後出現批量失效問題。此外(wài),車規、工規、航天級芯片測試要求(qiú)嚴苛,對高低溫衝(chōng)擊氣流儀的(de)溫變速度、控溫(wēn)精度、溫度均勻度(dù)、數據穩定性有著極高的行業標準要求。
        針對芯片研發的精細化(huà)、高速溫衝測試需求(qiú),勤卓自主研發高低溫衝擊氣流儀,突破傳統(tǒng)試驗設備技(jì)術瓶頸,采(cǎi)用雙風道(dào)獨立控(kòng)溫、高速氣流切換技術,無需液氮輔助即可實現極速(sù)冷熱切換,3秒(miǎo)內完成高低溫工況轉換,溫(wēn)度覆(fù)蓋(gài)-70℃~+180℃,精準複(fù)刻芯片真實工(gōng)作中的瞬態熱衝擊環境。設備搭載高精度鉑金測溫模塊(kuài)與ARM智能閉(bì)環(huán)控製係統,溫度波動≤±0.3℃,可針對(duì)單顆芯片、芯片模組、PCB貼片芯(xīn)片進行單點定(dìng)向氣流衝(chōng)擊測試,精準捕(bǔ)捉芯片局(jú)部熱點、散熱盲區與焊點疲勞(láo)隱患,完(wán)美適配芯片研發、失效分析、可靠性摸底、批量質檢全流程需求。
        在實際(jì)合作案例中,國(guó)內一家專注(zhù)於車規功(gōng)率芯片研發的高新技術企業,主營車載(zǎi)IGBT芯片(piàn)、MOSFET功率芯片,產品廣泛應用於新能源汽車電控係統(tǒng)。該(gāi)企業新品(pǐn)芯片在試樣(yàng)測試階段,頻繁出現高低溫切換後電氣參數漂移、封裝邊緣微開裂、焊點接觸(chù)不良等問題,常規測試設備無法精準定位故障誘因,導致新品研發停滯,無法通過車規級認證。

        為解決該測試(shì)難(nán)題,勤(qín)卓為其(qí)定製專屬高(gāo)低溫衝擊氣流儀測試方案,嚴格遵(zūn)循JEDEC JESD22-A104E行業標準,模擬新能源汽(qì)車極(jí)端工況:設置-55℃低(dī)溫持溫、150℃高(gāo)溫衝擊的循環測試,通過高速冷熱氣(qì)流交替衝刷芯片本體與引腳,複刻車(chē)輛啟(qǐ)停、冬夏溫差、高速運轉帶來的瞬態熱應(yīng)力衝(chōng)擊。經過數百次連續循環衝擊測試,精準複現(xiàn)芯片故障問題,幫助研發團隊鎖定核心(xīn)問題——芯片封裝膠體熱膨脹係數不匹配(pèi)、引(yǐn)腳(jiǎo)焊接工藝抗溫衝性能不足。

高低溫衝擊氣(qì)流儀

        依托勤卓高低溫衝擊氣流儀(yí)的精準測試數據,該企業針對性優(yōu)化(huà)芯片封裝材質(zhì)配比,升級引腳回流焊工藝,優化(huà)散熱結構設計。整改後再次開展(zhǎn)極(jí)速溫變衝擊測試,芯片電氣參數穩(wěn)定無(wú)漂移,封裝結構完好,徹(chè)底解(jiě)決冷熱衝擊失效問題,順利通過車規級可(kě)靠性(xìng)認證,大幅(fú)縮短研發周期,降低量產報廢成本。除車規芯片外,該(gāi)設備還可適配(pèi)5G射頻芯片、存儲芯片、工業控製芯片的研發測試,通用性與精準性極強(qiáng)。
        相較(jiào)於(yú)傳統測試設備,勤卓高低溫衝(chōng)擊氣流儀專為半導體芯片行業優化升級,無液氮損耗、節能環保、運行成本更低,支(zhī)持自定義多段溫衝程序、循(xún)環次數與(yǔ)持溫時間,適(shì)配(pèi)不同品類芯片的差(chà)異化(huà)測試需求。設備支持全程數據自動記錄、曲線追溯,可直接用於產品認(rèn)證申報,智能化操作(zuò)無(wú)需(xū)人工值(zhí)守,大幅提升芯片研發測試效率,適配實驗室(shì)研發與產線(xiàn)抽檢雙重場景(jǐng)。
        半導體芯片行業正向高精度、高可靠性、極端工況適配方向快速發展,極速溫變衝擊測試已然成為芯片研發不可或缺的核心環(huán)節。勤卓將持續深耕(gēng)半導體測試場景,迭代高低溫衝擊氣流儀核心技術,以精準、高效、穩定的測試設備與(yǔ)定製化方案,助力芯片企業攻克(kè)研發測試難題,築牢芯片(piàn)產品可靠性根基,賦能國內(nèi)半導體產業高質量發展。
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