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AI 芯片研(yán)發(fā)項目落地案(àn)例:勤卓芯片冷熱衝擊試驗箱完善芯片可靠性驗證體係

發布時間: 2026-06-05 08:52:05    來源:勤卓環試   

       在車載算力、邊緣計算與人工智能硬件產(chǎn)業快速發展的背景下,AI 芯(xīn)片封裝工(gōng)藝逐步向 Chiplet 異構封裝、FCBGA 高密度封裝升級,產品廣泛應用於自動駕駛控製器、工業(yè)智能算力(lì)單(dān)元、戶外基站模塊等設備。終端產品晝夜溫差(chà)驟變、設備啟停(tíng)冷熱交替、高寒與高溫地(dì)域混用等工況,極易造成芯片內部不同材(cái)質因熱脹冷縮係數差(chà)異產生應力損傷。國內多家 AI 芯片(piàn)研發企業(yè)為完善新品可靠性驗證體係,與(yǔ)勤卓達成(chéng)設備合作,引入芯片冷(lěng)熱(rè)衝擊試驗箱搭(dā)建標準化可靠性(xìng)實驗室,依托瞬時(shí)高低溫交變環境模擬,完成芯片工(gōng)藝驗證與樣品可靠(kào)性篩(shāi)選,為產品定型、車規認證(zhèng)提供完整試驗數據。


芯片冷熱衝擊試驗箱


        項目(mù)合作前期(qī),該芯片研發企業原有環境檢測設備僅可實現緩(huǎn)慢線(xiàn)性溫變,無法模擬實(shí)際使用中驟然冷熱切換的嚴(yán)苛工況。AI 芯片內部晶圓、塑封膠體、焊球、基板材質熱膨脹係數各不相同,快速溫(wēn)度驟變(biàn)帶來的瞬時應力,是引發封裝分層、BGA 焊點隱裂、內部線路脫粘的主要誘因,常規(guī)高低(dī)溫循環設備很難加速暴露此類隱性缺陷,產品裝機使用後偶發參數漂移、算力異常等故障,延緩新品研(yán)發與市場落地節奏。結合企業(yè)車(chē)規 AI 芯片、邊緣算力模組的研發測試需求,勤卓按需(xū)配套芯片冷熱衝擊試(shì)驗箱(xiāng),設備采用三區式溫(wēn)區(qū)結構,可實現高溫區、低溫區快速切換(huàn),短時間完成極低溫與高溫瞬間衝(chōng)擊,溫控區間契(qì)合 JEDEC、GB/T2423、AEC-Q100 等國內外芯片檢測規(guī)範(fàn),滿足新品方案摸底(dǐ)、多批次試樣(yàng)對(duì)比測試(shì)需求。

       設備投入使用後,芯片冷熱(rè)衝擊試驗(yàn)箱貫穿 AI 芯片方(fāng)案選型(xíng)、試樣優化、小批量試產全流程檢測。研發階段,技(jì)術人員針對(duì)不同封裝(zhuāng)材質、焊接(jiē)工藝的 AI 芯(xīn)片分組(zǔ)開展冷熱衝擊試(shì)驗,利用瞬間溫差產生的(de)交變應力,加速顯現(xiàn)封裝縫隙、焊點微裂紋等常溫檢測難以發(fā)現(xiàn)的工(gōng)藝短板。研發人員依托(tuō)試驗數(shù)據調整(zhěng)塑封原料配比、優(yōu)化植球與封裝固化工藝,從設計(jì)源頭改善(shàn)芯片耐溫變衝擊能力,有效減少後期產(chǎn)品失效(xiào)隱患。相較(jiào)於傳統實地環境試投方案,試驗室可控化衝擊測試不受季節、地域限製,大幅(fú)縮短研發驗證周期,降低新品試樣投入成(chéng)本。


芯片冷熱衝擊試驗箱


       進入小批量試產階段,芯片冷熱衝擊試驗箱用於產品出廠可靠性抽檢。通過標準(zhǔn)化衝擊篩選,提前剔除耐(nài)溫變性能(néng)不達(dá)標的半成品,避免不良芯片流入下遊整機裝配環節,從供應鏈端控製終端設備故障率。依托設備生成的完整試(shì)驗記錄與檢測報(bào)告,企業順利完成第三方可靠性認證,加快自研 AI 芯片在(zài)智(zhì)能座(zuò)艙、工業自動化設備領(lǐng)域的供(gòng)貨進度(dù)。
        從行業發展角度而言,隨著國產 AI 芯片國產化進程提速,終端應用場景日趨(qū)多元,冷熱衝擊可靠性已經成為芯片準入(rù)采(cǎi)購的重要考核指標。芯片冷熱衝擊(jī)試驗箱憑借精準的快速溫變控(kòng)製(zhì)能力,填補了芯片(piàn)瞬時(shí)溫差工況的試驗空白。此次合(hé)作(zuò)落地,印證了環境試驗設備對國產 AI 芯片品質升級的支撐作用。後續(xù)隨著芯片工藝持續(xù)迭(dié)代(dài),勤卓也將持續優化設備(bèi)測控性能,適配半導體行業不(bú)斷更(gèng)新的可靠性測(cè)試標準(zhǔn),助力國產(chǎn) AI 芯片產業高質量發展。
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