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LED產品為什麽要做(zuò)高(gāo)低溫冷熱衝擊試驗?

發布時(shí)間: 2022-03-22    來源(yuán):勤卓環試   

LED產品再飘花影院的日常中(zhōng)是非(fēi)常常(cháng)見(jiàn)的,您知道它為什麽要做高低溫冷熱衝擊實驗嗎?接下來小編就和您嘮(lào)一嘮!LED產品(pǐn)在實際使用中可能會遇到溫度(dù)急劇變化的環境。例如,在嚴寒的冬天,如果將LED產品從室外拿到(dào)室內工作(zuò),或者從室內拿到室外工作,就會遇到溫度的大幅度變化;如LED光源應用於“神七”載人航天器,作為“神七”出艙活(huó)動的照明燈,為太空人(rén)出(chū)艙行走和太空圖像拍照提供照明(míng)。外太空環(huán)境複雜(zá),地(dì)影區(背(bèi)離(lí)太陽)溫度在-60-70℃,日照區溫度非(fēi)常(cháng)高,在+200℃左右(yòu)。因此,要求LED產品具(jù)有能承受這種溫度迅速變化的能力。

勤卓高低溫冷熱衝擊試驗箱提供溫(wēn)度循環(huán)、溫度衝擊試驗,幫助客戶更好地了解產品的性能。溫度循環試(shì)驗的嚴格登記由組成循環試(shì)驗的高低溫溫度值、平衡時間、轉換時間及循環次數決定(dìng)。相關規範規(guī)定高低(dī)溫應從GB/T2421-2001《試驗A:低溫》和GB/T2423.2-2001《試驗B:高(gāo)溫》規定的試驗溫度中選取。循環次數一般為5個,轉換時(shí)間為23min

熱(rè)衝擊試驗

熱衝擊試驗是溫度劇烈變化環境下的試驗。熱衝擊試驗的程序和方法與溫度循環試驗基本一樣,經專家分析兩(liǎng)者的主要區別是:熱(rè)衝擊(jī)試驗的溫(wēn)度變化更為劇烈,即被實驗樣品(pǐn)的高溫和低溫的(de)轉換時間要小很多(為此,熱衝擊試驗必(bì)須有兩個溫度箱),轉(zhuǎn)換後盡快達到新的溫度(dù)。可采用液槽式熱(rè)衝擊試驗箱進行熱衝擊試驗。將樣品放(fàng)入(rù)試料籃(lán)內,通過上下左右自動(dòng)前後移動的裝置移動試料籃(lán)至預熱槽(cáo)或預冷槽,進行往返衝擊試驗,高溫為125℃,低(dī)溫為(wéi)-40℃,高溫和低溫的停(tíng)留時間為(wéi)530min,轉(zhuǎn)換時間(jiān)為20s,循環次數為200次(cì)。在熱衝擊試驗前後,均對樣品進(jìn)行形貌檢(jiǎn)查和光電參數檢查(chá)試驗。

關於濕熱試驗;在(zài)熱帶,雨後會形成(chéng)高溫、高濕的環境,相對濕度大於98%。濕熱試驗的目的是為(wéi)了確定LED產品在高溫、高濕或者伴有溫度、濕度變化條件下工作或儲存的適應(yīng)能力(lì)。我國(guó)規定(dìng)了恒定濕熱和交變濕熱兩種試驗。

溫度(dù)循環試驗(yàn) (Thermal Cycling Test);在產品的生命周期中,可能麵臨各種環境的條件下,使得產品在脆弱的部份顯現出來,造成產品(pǐn)的損傷或失(shī)效,進而影響到產品的可靠度。以每分鍾5~15度的溫變率,在溫(wēn)度變化上做一連串的高、低溫循環測試,此試驗(yàn)並非真正(zhèng)模(mó)擬實際情況。其目的在施加應力於試件上,加速試件之老化因子,使試件在(zài)環境因素下可能產生損害係統設備及(jí)零組件,以決定試件是否(fǒu)正確設計或製造。
常見的有(yǒu):
產品之電性功能
潤滑劑變質而失去潤滑作用
喪(sàng)失(shī)機械強度(dù),造成破裂、裂縫
材質之變質而引起化學作用
應(yīng)用範圍:
模塊/係(xì)統成品類產品環境仿真試驗
模塊/係(xì)統成品類產品應力壽命試(shì)驗(Strife test)
PCB/PCBA/焊點加(jiā)速應力試驗(ALT/AST)
溫度衝擊試驗(Thermal Shock)
在產品的生命周期中,可(kě)能麵臨各種環境的條件下,使得產品在脆弱的部份顯現出來,造成產品的損傷或失(shī)效,進而影響到(dào)產品的可靠度。以(yǐ)每分鍾40度(dù)的溫變率,在溫度急速變化(huà)上做(zuò)極嚴苛條件之(zhī)高、低溫衝(chōng)擊測試,此試驗並非真正模擬實際情況。其目的(de)在施加嚴苛應力於試件(jiàn)上,加速試件之老化因子,使試件在環境因素下可能產生潛在性損害係統設備及零組件,以決定(dìng)試件(jiàn)是否正確設計或製造。


高低溫冷熱衝擊試驗箱
常見的有:
產品之電性功能
產品結構毀(huǐ)壞(huài)或強度降低
零組件之錫裂現(xiàn)象
材質之變質而引起化學(xué)作用
密(mì)封損害(hài)
機台規格:


兩箱(xiāng)式冷熱衝擊試驗箱

型號(hào)

COK-36-2P

COK-80-2P

COK-100-2P

COK-252-2P

內容量(L)

36

49

100

252

內箱尺寸 ()W x D x H (cm

35*30*35

40*35*35

40*50*50

70*60*60

外箱尺寸 W x D x H (cm)

132*190*181

137*195*181

137*200*210

167*210*230

注:本廠支持(chí)非標尺寸定製!

Temperature range:-60℃~+150℃
Recovery time:< 5 min


應用範圍:
PCB可靠度加(jiā)速試驗
車電模塊加(jiā)速壽(shòu)命試驗
LED零件加(jiā)速試驗…

溫度變化對產品的影響:
元器件塗(tú)覆層脫落、灌封材(cái)料和密封化合物龜裂甚至破密封外(wài)殼開裂、填(tián)充料泄漏等,使得元器件電性能下降;
由不同材料構成的產品,溫度變化時產品受熱不均勻,導致產品變形、密封產品開(kāi)裂、玻璃或玻璃器皿和光學器等破碎;
較大的溫差,使得產品在低溫時(shí)表麵會產生凝露或結霜,在高溫時蒸發或融化,如此反複作用的結果導致和加速產品的腐蝕。

溫度變化環境效應:
玻璃(lí)製品和光學裝備破裂。
可動零件卡死或鬆動。結(jié)構(gòu)產生分離(lí)。
電性改變。
由於急速凝結水或結冰造成電子(zǐ)或機械失效。
以顆粒狀或紋狀產生破(pò)裂。
不同材料之(zhī)不同收縮或膨脹特性。
組件變形或破裂。
表(biǎo)麵塗料之龜裂。
密封艙之漏(lòu)氣。

勤卓十多年專業生(shēng)產研發高低(dī)溫試驗箱/高低溫濕熱交變試驗(yàn)箱/步入(rù)式恒溫恒濕實驗室/大型高(gāo)低溫(wēn)老化房/可程(chéng)式恒溫恒(héng)濕試驗箱/氙燈加速老化(huà)試驗箱/熒光紫外線老(lǎo)化試驗(yàn)箱/可編程(chéng)濕熱交變箱/高低溫冷熱衝擊試驗箱等環境試驗箱(xiāng)。

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